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本技术公开一种芯片测试座中自适应芯片尺寸的限位结构，包括：测试座，所述测试座内设有限位结构；所述限位结构包括：限位框和针板，所述针板设于所述限位框的底部，所述限位框内具有放置空间，所述放置空间内用于放置芯片，所述限位框为矩形框，所述限位框内...
该专利属于浙江季丰精密电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江季丰精密电子有限公司授权不得商用。

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