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本发明涉及半导体的技术领域，提供了堆叠封装存储器的测试方法及系统，包括采集电气性能数据，并输入预设的测试模型，输出电气特性参数；对电气特性参数进行处理，得到聚类结果，对聚类结果进行筛选，得到性能数据集，对性能数据集进行模式识别处理，得到模式...
该专利属于深圳市奥斯珂科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市奥斯珂科技有限公司授权不得商用。

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