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本发明涉及光模块测试技术领域，尤其涉及一种光模块高低温循环冲击测试装置及使用方法，包括测试台、固定环、驱动组件和固定机构，所述驱动组件固定设置在所述测试台上，用于驱动所述固定环转动；所述固定机构固定设置在所述固定环的侧部，用于夹持固定光模块...
该专利属于武汉恒泰通技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉恒泰通技术有限公司授权不得商用。

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