一种光模块高低温循环冲击测试装置及使用方法制造方法及图纸

技术编号:42305276 阅读:24 留言:0更新日期:2024-08-14 15:52
本发明专利技术涉及光模块测试技术领域,尤其涉及一种光模块高低温循环冲击测试装置及使用方法,包括测试台、固定环、驱动组件和固定机构,所述驱动组件固定设置在所述测试台上,用于驱动所述固定环转动;所述固定机构固定设置在所述固定环的侧部,用于夹持固定光模块;还包括若干热气喷嘴、若干冷气喷嘴、环形护罩、举升组件和排气组件,其中,若干所述热气喷嘴和若干所述冷气喷嘴沿所述固定环周向环形阵列并相互交错设置,若干所述热气喷嘴和若干所述冷气喷嘴固定设置在所述测试台的顶部,用于向所述固定机构的方向吹气;本发明专利技术提出了一种光模块高低温循环冲击测试装置及使用方法,其通过设置举升组件驱动环形护罩升降,方便将所有的固定机构暴露出来,便于测试人员在固定机构上装卸光模块,操作较为方便,解决了现有光模块高低温循环测试装置不方便装卸光模块的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光模块测试,尤其涉及一种光模块高低温循环冲击测试装置及使用方法


技术介绍

1、在电子行业中,对于各种模块进行测试是非常重要的。尤其是光收发模块tosa/rosa/ld/pd等组件,必须在高低温条件下,进行高低温循环冲击测试和筛选。

2、公开号为cn215374435u的技术公开了一种应用于光模块的自动高低温循环老化装置,其技术方案要点包括固定桌面,所述固定桌面圆周外壁开设有等距离分布的弧形槽,且弧形槽内壁分别安装有弧形加热壳体和弧形冷却壳体,所述固定桌面圆周外壁通过轴承转动连接有固定环,且固定环圆周外壁安装有等距离分布的固定机构,固定桌面顶部外壁设置有制冷机构。

3、如上述的技术方案,其固定环的大部分结构被包裹在壳体内,只有小部分结构露出在壳体之外,因此,测试前后在固定环的固定机构上装卸光模块时空间受限,装卸操作较为不方便。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术提出了一种光模块高低温循环冲击测试装置及使用方法,其通过设置举升组件驱动环形护罩升降,方便将所有的固定机构暴本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光模块高低温循环冲击测试装置,包括测试台(1)、固定环(2)、驱动组件(3)和固定机构(4),其中,

2.如权利要求1所述的一种光模块高低温循环冲击测试装置,其特征在于:所述排气组件(9)包括若干集气罩(91)、环形集气管(92)和出气管(93),其中,

3.如权利要求2所述的一种光模块高低温循环冲击测试装置,其特征在于:所述排气组件(9)还包括硅胶帘(94),其中,

4.如权利要求3所述的一种光模块高低温循环冲击测试装置,其特征在于:所述热气喷嘴(5)和所述冷气喷嘴(6)的顶部均矩阵设置有若干喷气口。

5.如权利要求4所述的一种光...

【技术特征摘要】

1.一种光模块高低温循环冲击测试装置,包括测试台(1)、固定环(2)、驱动组件(3)和固定机构(4),其中,

2.如权利要求1所述的一种光模块高低温循环冲击测试装置,其特征在于:所述排气组件(9)包括若干集气罩(91)、环形集气管(92)和出气管(93),其中,

3.如权利要求2所述的一种光模块高低温循环冲击测试装置,其特征在于:所述排气组件(9)还包括硅胶帘(94),其中,

4.如权利要求3所述的一种光模块高低温循环冲击测试装置,其特征在于:所述热气喷嘴(5)和所述冷气喷嘴(6)的顶部均矩阵设置有若干喷气口。

5.如权利要求4所述的一种光模块高低温循环冲击测试装置,其特征在于:还包括输气管道(10),其中,

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【专利技术属性】
技术研发人员:王亚丽肖金勇肖海清
申请(专利权)人:武汉恒泰通技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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