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本技术涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路测试装置，包括测试仪，所述测试仪为HN2600MX/C型号，所述测试仪的表面开设有若干个传输口，所述测试仪的表面设有限位结构，所述限位结构包括框架，所述框架与测试仪的表面固定连接，所述框架的表面...
该专利属于何旭颍所有，仅供学习研究参考，未经过何旭颍授权不得商用。

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