一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本技术涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路测试装置，包括测试仪，所述测试仪为HN2600MX/C型号，所述测试仪的表面开设有若干个传输口，所述测试仪的表面设有限位结构，所述限位结构包括框架，所述框架与测试仪的表面固定连接，所述框架的表面开设有凹槽，所述框架远离测试仪的一侧固定连接有两个U形架，所述U形架的表面转动连接有支撑臂，所述U形架的表面滑动贯穿有插销，所述支撑臂的表面开设有两个圆槽，所述圆槽的尺寸与插销的尺寸相适配，所述支撑臂的表面固定连接有挡板。本技术，解决了按压集成电路进行连接时容易误触，导致集成电路上的电子元器件发生脱落的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及集成电路，尤其涉及一种集成电路测试装置。

技术介绍

1、集成电路是一种电子元器件，由所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块电子半导体晶片或介质基片上，集成电路在出厂使用前需使用测试仪进行测试，以保证集成电路能够稳定的运行。

2、针对上述及现有的相关技术，专利技术人认为往往存在以下缺陷：在使用测试装置对集成电路进行测试时，需使用多根传输线将测试仪与集成电路进行连接时，在连接时需按压集成电路进行连接，因此在按压集成电路进行连接时容易误触，导致集成电路上的电子元器件发生脱落，从而导致集成电路发生损坏。

3、因此，本技术提供一种集成电路测试装置。

技术实现思路

1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在按压集成电路进行连接时容易误触，导致集成电路上的电子元器件发生脱落的缺点，而提出的一种集成电路测试装置。

2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括测试仪，所述测试仪为hn2600mx/c型号，所述测试仪的表面本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成电路测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：所述测试仪(1)的表面开设有若干个传输口(2)，所述测试仪(1)的表面设有限位结构(3)，所述限位结构(3)包括框架(301)，所述框架(301)与测试仪(1)的表面固定连接，所述框架(301)的表面开设有凹槽(302)，所述框架(301)远离测试仪(1)的一侧固定连接有两个U形架(303)，所述U形架(303)的表面转动连接有支撑臂(304)，所述U形架(303)的表面滑动贯穿有插销(305)，所述支撑臂(304)的表面开设有两个圆槽(306)，所述圆槽(306)的尺寸与插销(305)的尺寸相适配，所述支撑臂(304)的表面固定连...

【技术特征摘要】

1.一种集成电路测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：所述测试仪(1)的表面开设有若干个传输口(2)，所述测试仪(1)的表面设有限位结构(3)，所述限位结构(3)包括框架(301)，所述框架(301)与测试仪(1)的表面固定连接，所述框架(301)的表面开设有凹槽(302)，所述框架(301)远离测试仪(1)的一侧固定连接有两个u形架(303)，所述u形架(303)的表面转动连接有支撑臂(304)，所述u形架(303)的表面滑动贯穿有插销(305)，所述支撑臂(304)的表面开设有两个圆槽(306)，所述圆槽(306)的尺寸与插销(305)的尺寸相适配，所述支撑臂(304)的表面固定连接有挡板(307)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述插销(305)的圆弧面套有弹簧(308)，所述弹簧(308)的两端分别与插销(305)和u形架(303)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(301)...

【专利技术属性】
技术研发人员：何旭颍，杨全，
申请(专利权)人：何旭颍，
类型：新型
国别省市：