温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及芯片质量验证技术领域，特别是涉及一种差错检测机制功能验证方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测芯片的功能控制模块接口协议以及节点信息，基于节点信息确定错误注入节点列表；根据功能控制模块接口协议构建...
该专利属于苏州旗芯微半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州旗芯微半导体有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。