下载一种设备多状态量加成感知的芯片测试装置的技术资料

文档序号:42218310

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本申请提供的一种设备多状态量加成感知的芯片测试装置,该装置包括了自动测试平台、多参数模拟发生器和定制化测试工装。当用户需要对芯片进行性能测试时,可以将待测芯片放置至装置中,并根据该待测芯片的测试需求在自动测试平台中输入测试指令,以使自动测试...
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