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一种用于窄测试键的垂直探针卡制造技术
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下载一种用于窄测试键的垂直探针卡的技术资料
文档序号:4219980
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本发明提供了一种用于窄测试键的垂直探针卡,包括电路板和探针组,该探针组设置在电路板的一侧,且电连接于该电路板;上述探针组包含多个探针,以斜出针的方式布置在电路板上,上述探针具有针先端和针身部分,且针先端和针身部分呈钝角;上述针前端的中间部分...
该专利属于和舰科技(苏州)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过和舰科技(苏州)有限公司授权不得商用。
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