温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种芯片电源物理版图的缺陷检测方法、装置、电子设备及介质，属于集成电路技术领域，所述方法包括：识别每一芯片金属层的电源线和通孔，得到实际电源物理版图；将每一芯片金属层中的所有通孔在通孔所处电源线的延伸方向上进行扩展，得到预期电源物...
该专利属于上海壁仞科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海壁仞科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。