下载半导体器件、集成电路以及电子设备的技术资料

文档序号:42193611

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本申请的实施例提供一种半导体器件、集成电路以及电子设备,涉及半导体技术领域,该半导体器件兼具高击穿电压BV以及低比导通电阻Ron,sp。该半导体器件包括:衬底;设置于衬底上的有源层;有源层包括第一掺杂区域以及与第一掺杂区域接触的第二掺杂区域...
该专利属于华为技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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