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本发明公开了一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法，是一种通过应用数码显微镜和计算机测量散粒物料颗粒形状参数的方法和软件。数码显微镜完成散粒颗粒物料图像采集，计算机完成采集到的图像的处理。该方法精简了测量散粒物料颗粒形状参数的过程，提高了测量的...
该专利属于昆明理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过昆明理工大学授权不得商用。

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