【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，该方法利用数码显微镜摄像颗粒图片，通过计算机软件处理得到颗粒形状参数信息。
技术介绍
随着科学技术的进步，各种应用软件在测量领域得到了广泛的普及和应用，使得 各种繁琐的、不精确的测量方法过时。在通常的测量散粒物料颗粒形状参数的方法中，如人 工观察记录方式，比较繁琐并且不精确；现有的图像处理软件也可以用于测量相应的颗粒 形状的参数，但并没有针对颗粒形状做相应的特殊处理和优化。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供，该方法精简了测 量散粒物料颗粒形状参数的过程，提高了测量的精确度，测量的软件是针对测量散粒物料 颗粒形状参数而特殊处理和优化的，便于高效地测量散粒物料颗粒形状相关的各种参数信息。 为达到上述专利技术的目的，在一个由一台数码显微镜和一台计算机组成的系统中， 并且数码显微镜可摄lnm-lmm范围颗粒的完整图像以位图格式存储并传输给计算机，计算 机有至少一个处理器和至少有个存储程序的存储器，提供了一种测量散粒物料颗粒形状参 数的方法和软件，该方法包括从一台数码显微镜摄图像存储于计算机，并用软件处理得到 相关颗粒形状参数信息，然后存储已备后用。超...
【技术保护点】
一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法，该方法包括下列步骤：将载玻片在１％～２％浓度的盐酸中浸泡，除去表面杂物后用蒸馏水洗净晾干备用；取样所要测量散粒物料颗粒，该颗粒大小范围应该在１ｎｍ～１ｍｍ；其特征在于：超出大小范围１ｎｍ～１ｍｍ的颗粒，调节数码显微镜使之可摄像部分包括整个颗粒并取其图像保存为位图格式的图像；用测量散粒物料颗粒形状参数的软件处理上述保存的位图图像得到相应颗粒的形状参数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：戈振扬，郭洁，
申请(专利权)人：昆明理工大学，
类型：发明
国别省市：53[中国|云南]
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