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本发明提供一种分子半导体材料构象检测方法及自旋寿命探测器件，分子半导体材料构象检测方法包括调控分子半导体薄膜的不同构象并基于此制备自旋寿命探测器件；利用自旋寿命探测器件探测分子半导体层的自旋寿命；利用分子半导体层的构象与分子半导体层的自旋寿...
该专利属于国家纳米科学中心所有，仅供学习研究参考，未经过国家纳米科学中心授权不得商用。

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