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本技术属于垂直探针卡领域，具体地说是一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，包括基底板，所述基底板的顶部安装有第一固定结构，且第一固定结构的顶部安装有第二固定结构，所述基底板的内侧安装有探针主体，所述基底板包括有第一定位槽与定位结构，所述基底...
该专利属于江苏鹏利芝达恩半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏鹏利芝达恩半导体有限公司授权不得商用。

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