【技术实现步骤摘要】
本技术涉及垂直探针卡领域，具体是一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡。
技术介绍
1、探针卡是一种测试接口，垂直探针卡是指适合常规逻辑产品的多管芯测试的探针卡，它被称为“垂直型”探针卡，因为探针垂直于基材，由于其短针状结构且与设备垂直接触，因此垂直类型最适合于测量小焊盘，高频设备。
2、在中国专利cn202223166050.6中，该技术提供一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，包括基板主体、上盖板和下盖板，所述基板主体下端面的中部固定连接有焊接层，所述焊接层的下端面固定连接有子板，所述基板主体的下端面开设有多个第二螺丝孔，所述上盖板下端面的中部开设有圆槽，所述圆槽的内顶面设置有封装基板本体，所述上盖板与封装基板本体的内部均开设有多个第二通孔，所述第二通孔的内部均设置有探针本体。该技术中，可以提高单次测试的数量，提高测试效率；通过封装基板代替传统使用极细金属线的传输信号方式，提高了信号传输稳定性，同时避免了发生探针和极细金属线接触不良造成的短路问题。
3、现有垂直探针卡虽然能够解决现有的垂直式探针卡，传输信号至测...
【技术保护点】
1.一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，包括基底板(1)，其特征在于：所述基底板(1)的顶部安装有第一固定结构(2)，且第一固定结构(2)的顶部安装有第二固定结构(3)，所述基底板(1)的内侧安装有探针主体(4)；
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，其特征在于：所述定位结构(12)包括有定位板(121)与伸缩管(122)，所述定位结构(12)的内壁两侧均固定连接有伸缩管(122)，且伸缩管(122)远离定位结构(12)的一端固定连接有定位板(121)。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，...
【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，包括基底板(1)，其特征在于：所述基底板(1)的顶部安装有第一固定结构(2)，且第一固定结构(2)的顶部安装有第二固定结构(3)，所述基底板(1)的内侧安装有探针主体(4)；
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，其特征在于：所述定位结构(12)包括有定位板(121)与伸缩管(122)，所述定位结构(12)的内壁两侧均固定连接有伸缩管(122)，且伸缩管(122)远离定位结构(12)的一端固定连接有定位板(121)。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，其特征在于：所述定位结构(12)还包括有复位弹簧(123)，所述伸缩管(122)的边侧固定连接有复位弹簧(123)，所述复位弹簧(123)的两端分别固定连接定位结构(12)与定位板(121)。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的封装基板垂直探针卡，其特征在于：所述第一固定结构(2)包括有固定槽(21)与卡槽(22)，所述第一固定结构(2)的顶部两侧均预留有固定槽(21)，且固定槽(21)的...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙波波，
申请(专利权)人：江苏鹏利芝达恩半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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