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芯片功耗的一种测量方法，包括如下步骤：将待测芯片的应用场景设置成符合或近似ＪＥＤＥＣ标准的环境；将待测芯片通电工作一定时间，使用待测芯片工作稳定；分别测量待测芯片的壳温以及待测芯片周围空气环境的温度；将所测到的待测芯片的壳温及待测芯片周围空...
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