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本技术涉及功率半导体器件测试技术领域，具体涉及一种功率半导体器件的射线辐照试验装置。一种功率半导体器件的射线辐照试验装置，包括：对应设置的支撑前框架和支撑后框架，支撑前框架和支撑后框架间形成有第一容纳空间；夹板组件，设于第一容纳空间内，包括...
该专利属于国网智能电网研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国网智能电网研究院有限公司授权不得商用。

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