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本技术提供一种用于对芯片失效分析的新型夹具，具体涉及芯片技术领域。所述用于对芯片失效分析的新型夹具包括夹持结构，夹持结构包括夹持底座，夹持底座表面开设有嵌入槽，嵌入槽内壁对称两侧面嵌入设置有夹持活动件，夹持结构侧面设有稳定结构，稳定结构与夹...
该专利属于杭州盘古开物新能源科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州盘古开物新能源科技有限责任公司授权不得商用。

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