一种用于对芯片失效分析的新型夹具制造技术

本技术提供一种用于对芯片失效分析的新型夹具，具体涉及芯片技术领域。所述用于对芯片失效分析的新型夹具包括夹持结构，夹持结构包括夹持底座，夹持底座表面开设有嵌入槽，嵌入槽内壁对称两侧面嵌入设置有夹持活动件，夹持结构侧面设有稳定结构，稳定结构与夹持结构相嵌连接，所述稳定结构包括支撑柱，支撑柱嵌入夹持底座内部与其连接，支撑柱内部嵌入设置有稳定杆，支撑柱内部、稳定杆一侧设有调节齿轮，调节齿轮转动可带动稳定杆升降。本技术，通过稳定结构绕过芯片侧边位于芯片上方，对芯片进行纵向限定，与芯片顶边接触，有效增加了新型夹具的稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片，尤其涉及一种用于对芯片失效分析的新型夹具。

技术介绍

1、芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(英语：integrated circuit,ic)。是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，芯片的失效会导致电子设备的瘫痪，而致使芯片失效有多种可能，因此需要对失效的芯片进行失效分析，查出具体失效原因以便对芯片进行修复，对芯片失效分析有专门的芯片检测仪，芯片检测仪中配备有专门的芯片夹具。

2、传统的芯片检测仪中的芯片夹具对芯片的夹持点只有一处，且处于芯片边缘处，夹具的稳定性不高，且对芯片表面进行接触检测时，容易因接触力过大而损伤芯片被夹持边缘。

技术实现思路

1、为解决上述传统夹具的稳定性不高，且对芯片表面进行接触检测时，容易因接触力过大而损伤芯片被夹持边缘技术问题，本技术提供一种用于对芯片失效分析的新型夹具。

2、本技术提供的用于对芯片失效分析的新型夹具包括：夹持结构，夹持结构包括夹持底座，夹持底本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于对芯片失效分析的新型夹具，包括：夹持结构(1)，夹持结构(1)包括夹持底座(11)，夹持底座(11)表面开设有嵌入槽(12)，嵌入槽(12)内壁对称两侧面嵌入设置有夹持活动件(13)，夹持结构(1)侧面设有稳定结构(2)，稳定结构(2)与夹持结构(1)相嵌连接，其特征在于，所述稳定结构(2)包括支撑柱(21)，支撑柱(21)嵌入夹持底座(11)内部与其连接，支撑柱(21)内部嵌入设置有稳定杆(22)，支撑柱(21)内部、稳定杆(22)一侧设有调节齿轮(25)，调节齿轮(25)转动可带动稳定杆(22)升降。

2.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具，其特...

【技术特征摘要】

1.一种用于对芯片失效分析的新型夹具，包括：夹持结构(1)，夹持结构(1)包括夹持底座(11)，夹持底座(11)表面开设有嵌入槽(12)，嵌入槽(12)内壁对称两侧面嵌入设置有夹持活动件(13)，夹持结构(1)侧面设有稳定结构(2)，稳定结构(2)与夹持结构(1)相嵌连接，其特征在于，所述稳定结构(2)包括支撑柱(21)，支撑柱(21)嵌入夹持底座(11)内部与其连接，支撑柱(21)内部嵌入设置有稳定杆(22)，支撑柱(21)内部、稳定杆(22)一侧设有调节齿轮(25)，调节齿轮(25)转动可带动稳定杆(22)升降。

2.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具，其特征在于，所述夹持底座(11)呈漏斗结构，嵌入槽(12)开设于夹持底座(11)水平表面，嵌入槽(12)一端、夹持底座(11)弧面开设有安装槽(15)。

3.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具，其特征在于，所述嵌入槽(12)对称两侧面分别开设有活动槽(14)，夹持活动件(13)嵌入活动槽(14)中与夹持底座(11)活动连接。

4.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具，其特征在于，所述夹持活动件(13)包括楔形结构的夹持块(131)，夹持块(131)对称两侧面分别固定连接有轴桩(132)...

【专利技术属性】
技术研发人员：饶纲发，饶莲花，
申请(专利权)人：杭州盘古开物新能源科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：