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本发明涉及一种用于半导体激光器COS外观缺陷多角度快速检测装置及检测方法，属于半导体激光器封装领域，包括底座、载入料盘、收纳料盘、装载机构、正面测机构、转移机构和背面检测机构；底座前端设有载入料盘和收纳料盘，载入料盘和收纳料盘之间设有装载机...
该专利属于山东华光光电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华光光电子股份有限公司授权不得商用。

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