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本发明提供一种方便线路连接的集成电路测试方法及系统，涉及集成电路测试技术领域，包括：获取待测集成电路，设置测试电路板，测试点以及柔性互连阵列，进行对准连接，获取待测器件信息并解密，得到待测电路信息；生成初始测试信号序列，映射至量子态空间生成...
该专利属于北京炎黄国芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京炎黄国芯科技有限公司授权不得商用。

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