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本发明公开了一种单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法，属于纳米颗粒测量技术领域，包括成像机构、图像采集器、电场施加机构以及计算主机；成像机构包括与图像采集器相对设置的显微物镜和激发光源，与显微物镜相对设置有样品台，图像采集器与显微物镜之...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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