单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法制造方法及图纸

技术编号:42147195 阅读:21 留言:0更新日期:2024-07-27 00:02
本发明专利技术公开了一种单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法,属于纳米颗粒测量技术领域,包括成像机构、图像采集器、电场施加机构以及计算主机;成像机构包括与图像采集器相对设置的显微物镜和激发光源,与显微物镜相对设置有样品台,图像采集器与显微物镜之间设置有滤光组件;电场施加机构包括设置在样品台上的电极板,电极板连接有电压调节器;图像采集器和电压调节器均与计算主机相连接,采用上述一种单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法,实现了单纳米颗粒表面电势的检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及纳米颗粒测量,尤其是涉及一种单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法


技术介绍

1、在生物检测领域,通过荧光颗粒物检测进行细胞检测,现有技术中颗粒在溶液表面会附着一层正离子与负离子,这些离子在颗粒表面会形成离子膜,导致粒子在溶液当中具有表面电势。传统方法对表面电势的测量是通过仪器对溶液的电泳光散射方法进行测量的,这种方法需要将颗粒均匀的溶于水溶液中进行散射测量,通常会得到一个表面电势的分布,但是无法对单一样品颗粒进行表面电势测量。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种单纳米颗粒表面电势的测量装置以及测量方法,实现了单纳米颗粒表面电势的测量。

2、为实现上述目的,本专利技术提供了一种单纳米颗粒表面电势的测量装置,包括成像机构、图像采集器、电场施加机构以及计算主机;

3、成像机构包括与图像采集器相对设置的显微物镜和激发光源,与显微物镜相对设置有样品台,图像采集器与显微物镜之间设置有滤光组件;

4、电场施加机构包括设置在样品台上的电极板,电极板连接有电压调本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种单纳米颗粒表面电势的测量装置,其特征在于:包括成像机构、图像采集器、电场施加机构以及计算主机;

2.根据权利要求1所述的一种单纳米颗粒表面电势的测量装置,其特征在于:滤光组件包括依次设置的第一滤光片和第二滤光片,第一滤光片为二向色镜且与激发光源相对设置,第二滤光片设置在图像采集器与第一滤光片之间。

3.一种基于权利要求2所述的一种单纳米颗粒表面电势的测量装置的测量方法,其特征在于,具体步骤如下:

4.根据权利要求3所述的一种测量方法,其特征在于:在步骤S5中,电场强度与偏移距离的关系如下:

5.根据权利要求4所述的一种测量方法,其特...

【技术特征摘要】

1.一种单纳米颗粒表面电势的测量装置,其特征在于:包括成像机构、图像采集器、电场施加机构以及计算主机;

2.根据权利要求1所述的一种单纳米颗粒表面电势的测量装置,其特征在于:滤光组件包括依次设置的第一滤光片和第二滤光片,第一滤光片为二向色镜且与激发光源相对设置,第二滤光片设置在图像采集器与第一滤光片之间。

3.一种基于权利要求2所述的一种单纳...

【专利技术属性】
技术研发人员:单旭晨王帆钟晓岚
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:

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