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本发明公开了一种快速修复热点的OPC验证方法，首先进行常规OPC验证，验证项目包含pinch check、bridge check；通过上述的验证项目测试，如果没有找到热点，则验证通过；如果找到热点，则执行自动排除热点的步骤；形成新的OPC...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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