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本发明公开了一种全自动双工位晶圆检测设备，包括机架，所述机架的其中一端开设有上料口，所述上料口处设有取料模块，所述取料模块的后侧设有检测台，所述检测台上悬挂有至少一个检测机构，任意一所述检测机构下方均对应设有移位机构，所述移位机构上设有检测...
该专利属于珠海诚锋电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海诚锋电子科技有限公司授权不得商用。

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