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本申请涉及集成电路测试模式下的时钟诊断修复方法、装置和设备，通过对集成电路芯片在扫描设计后的网表进行测试时钟树的提取分析，找到两个输入端来源于测试时钟的所有最后一级时钟选择器后，从中找出来源于组合逻辑的功能选择使能信号的修复选择端，最后分别...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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