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本发明公开了一种半导体器件测试电路、PCB板及测试装置，包括第一可调驱动单元、第二可调驱动单元、示波单元、模式调节单元、可调输出限流单元和负载单元，第一可调驱动单元的输出端与基准陪测器件的驱动端连接，第二可调驱动单元的输出端与测试器件的驱动...
该专利属于佛山职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过佛山职业技术学院授权不得商用。

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