【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及门禁提示，特别涉及一种半导体器件测试电路、pcb板及测试装置。
技术介绍
1、第三代半导体器件(如mos管、igbt模块等)在进行动态参数测试时，通常是对待测器件进行阈值电压测试，检测待测器件的阈值电压是否符合参考范围，但是在动态测试过程中，存在大量的误差因素(如高压、大电流、开关损耗、震动等)，待测器件往往在动态测试过程中出现失效的问题，然后现有的测试系统在待测器件失效的瞬间不能及时作出暂停或关闭响应，难以对待测器件和测试系统进行失效保护。
2、可见，现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
1、鉴于上述现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种半导体器件测试电路、pcb板及测试装置，其可快速根据测量器件的失效情况作出响应，利用输出限流的方式来对测量器件和测试系统进行失效保护。
2、为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：
3、一种半导体器件测试电路，包括第一可调驱动单元、第二可调驱动单元、示波单元、模式调节单元、可调输出限流单元和负载单元，所述第一可调驱动单元的输出端与基准陪测器件的驱动端连接，所述第二可调驱动单元的输出端与测试器件的驱动端连接，所述示波单元分别与所述基准陪测器件和所述测试器件的输出端连接，所述基准陪测器件的输出端和所述测试器件的输出端均通过模式调节单元与所述可调输出限流单元的输入端连接，所述可调输出限流单元的输出端与所述负载单元连接；所述第一可调驱动单元用于调节所述基准陪测器件的驱动电压；所述第二
4、所述的半导体器件测试电路中，所述第一可调驱动单元包括第一驱动开关芯片u1、第一可调低压驱动电源、第二可调低压驱动电源和第一驱动信号源，所述第一可调低压驱动电源的负极和所述第二可调低压驱动电源的正极接地，所述第一驱动开关芯片u1的使能端与所述第一驱动信号源连接，所述第一驱动开关芯片u1的正极输入端和负极输入端分别与所述第一可调低压驱动电源的正极和所述第二可调低压驱动电源的负极连接，所述第一驱动开关芯片u1的输出端与所述基准陪测器件的驱动端连接。
5、所述的半导体器件测试电路中，所述第一可调驱动单元还包括第一二极管组、第一电阻阵列组和第一电流传感器，所述第一驱动开关芯片u1的输出端与所述第一二极管组的一端连接，所述第一二极管组的另一端与所述第一电阻阵列组的一端连接，所述第一电阻阵列组的另一端分别与所述第一电流传感器的检测端和所述基准陪测器件的驱动端连接。
6、所述的半导体器件测试电路中，所述第二可调驱动单元包括第二驱动开关芯片u2、第三可调低压驱动电源、第四可调低压驱动电源和第二驱动信号源，所述第三可调低压驱动电源的负极和所述第四可调低压驱动电源的正极接地，所述第二驱动开关芯片u2的使能端与所述第二驱动信号源连接，所述第二驱动开关芯片u2的正极输入端和负极输入端分别与所述第三可调低压驱动电源的正极和所述第四可调低压驱动电源的负极连接，所述第二驱动开关芯片u2的输出端与所述测试器件的驱动端连接。
7、所述的半导体器件测试电路中，所述第二可调驱动单元还包括第二二极管组、第二电阻阵列组和第二电流传感器，所述第二驱动开关芯片u2的输出端与所述第二二极管组的一端连接，所述第二二极管组的另一端与所述第二电阻阵列组的一端连接，所述第二电阻阵列组的另一端分别与所述第二电流传感器的检测端和所述基准陪测器件的驱动端连接。
8、所述的半导体器件测试电路中，所述可调输出限流单元包括igbt器件和滤波部，所述滤波部与所述igbt器件的输入端和/或输出端连接，所述igbt的输入端与所述模式调节单元的输出端连接，所述igbt的输出端与所述负载单元连接，所述igbt的驱动端用于接收外部限流电压信号。
9、所述的半导体器件测试电路中，所述模式调节单元包括第一继电器k1、第二继电器k2、第三继电器k3和功率电感l，所述第一继电器k1和所述第二继电器k2的一端分别与所述基准陪测器件的输出端连接，所述功率电感l的一端和所述第二继电器k2的另一端接地，所述功率电感l的另一端分别与所述第一继电器k1和另一端和所述第三继电器k3的一端连接，所述第三继电器k3的另一端与所述测试器件的输出端连接。
10、所述的半导体器件测试电路中，所述示波单元包括示波部、第三电流传感和第四电流传感器，所述示波部的vds端与所述基准陪测器件的输出端连接，所述示波部的vgs端与所述测试器件的输入端连接，所述示波部的ids端通过第三电流传感器与所述测试器件的输出端连接，所述第四电流传感器与所述测试器件的输出端连接。
11、本申请还提供一种pcb板，所述的pcb板上印刷有如上所述的半导体器件测试电路。
12、本申请还提供一种测试装置，所述的测试装置上采用如上所述的半导体器件测试电路实现工作控制。
13、有益效果：
14、本专利技术提供了一种半导体器件测试电路，在测试之前，利用模式调节单元来调节测试电路的测试模式，待模式确定后则利用第一可调驱动单元和第二可调驱动单元分别根据测试陪测器件和测试器件的驱动电压参考值调节其实际所输出的驱动电压，用户可利用上位机向第一可调驱动单元和第二可调驱动单元发送调压信号来控制两者的输出电压，当基准陪测器件和测试器件进入工作状态时，则通过示波单元对基准陪测器件和测试器件的输出信号进行监测，以获得基准陪测器件和测试器件的测量结果，并且基准陪测器件和测试器件的输出电能利用负载单元进行吸收，而在吸收过程中，可调输出限流单元则会对输出电流进行电流检测(在工作前，用户需利用上位机来调节可调输出限流单元的最大限流值)，若输出电流大于预设最大输出电流时，则可能存在器件失效的问题，此时，可调输出限流单元则会关断，使整个测试电路形成断路，从而对测试电路和测试器件进行保护；此外，基准陪测器件起到测试参考的作用，当基准陪测器件出现失效而测试器件并未失效时，则可提前作出失效响应，控制可调输出限流单元限制电路所输出的能量，避免短路产生的高压或大电流击穿测试电路。
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1.一种半导体器件测试电路，其特征在于，包括第一可调驱动单元、第二可调驱动单元、示波单元、模式调节单元、可调输出限流单元和负载单元，所述第一可调驱动单元的输出端与基准陪测器件的驱动端连接，所述第二可调驱动单元的输出端与测试器件的驱动端连接，所述示波单元分别与所述基准陪测器件和所述测试器件的输出端连接，所述基准陪测器件的输出端和所述测试器件的输出端均通过模式调节单元与所述可调输出限流单元的输入端连接，所述可调输出限流单元的输出端与所述负载单元连接；所述第一可调驱动单元用于调节所述基准陪测器件的驱动电压；所述第二可调驱动单元用于调节所述测试器件的驱动电压；所述可调输出限流单元用于调节流入所述负载单元的输入电流。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述第一可调驱动单元包括第一驱动开关芯片U1、第一可调低压驱动电源、第二可调低压驱动电源和第一驱动信号源，所述第一可调低压驱动电源的负极和所述第二可调低压驱动电源的正极接地，所述第一驱动开关芯片U1的使能端与所述第一驱动信号源连接，所述第一驱动开关芯片U1的正极输入端和负极输入端分别与所述第一可调低压驱动
3.根据权利要求2所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述第一可调驱动单元还包括第一二极管组、第一电阻阵列组和第一电流传感器，所述第一驱动开关芯片U1的输出端与所述第一二极管组的一端连接，所述第一二极管组的另一端与所述第一电阻阵列组的一端连接，所述第一电阻阵列组的另一端分别与所述第一电流传感器的检测端和所述基准陪测器件的驱动端连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述第二可调驱动单元包括第二驱动开关芯片U2、第三可调低压驱动电源、第四可调低压驱动电源和第二驱动信号源，所述第三可调低压驱动电源的负极和所述第四可调低压驱动电源的正极接地，所述第二驱动开关芯片U2的使能端与所述第二驱动信号源连接，所述第二驱动开关芯片U2的正极输入端和负极输入端分别与所述第三可调低压驱动电源的正极和所述第四可调低压驱动电源的负极连接，所述第二驱动开关芯片U2的输出端与所述测试器件的驱动端连接。
5.根据权利要求4所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述第二可调驱动单元还包括第二二极管组、第二电阻阵列组和第二电流传感器，所述第二驱动开关芯片U2的输出端与所述第二二极管组的一端连接，所述第二二极管组的另一端与所述第二电阻阵列组的一端连接，所述第二电阻阵列组的另一端分别与所述第二电流传感器的检测端和所述基准陪测器件的驱动端连接。
6.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述可调输出限流单元包括IGBT器件和滤波部，所述滤波部与所述IGBT器件的输入端和/或输出端连接，所述IGBT的输入端与所述模式调节单元的输出端连接，所述IGBT的输出端与所述负载单元连接，所述IGBT的驱动端用于接收外部限流电压信号。
7.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述模式调节单元包括第一继电器K1、第二继电器K2、第三继电器K3和功率电感L，所述第一继电器K1和所述第二继电器K2的一端分别与所述基准陪测器件的输出端连接，所述功率电感L的一端和所述第二继电器K2的另一端接地，所述功率电感L的另一端分别与所述第一继电器K1和另一端和所述第三继电器K3的一端连接，所述第三继电器K3的另一端与所述测试器件的输出端连接。
8.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述示波单元包括示波部、第三电流传感和第四电流传感器，所述示波部的VDS端与所述基准陪测器件的输出端连接，所述示波部的VGS端与所述测试器件的输入端连接，所述示波部的IDS端通过第三电流传感器与所述测试器件的输出端连接，所述第四电流传感器与所述测试器件的输出端连接。
9.一种PCB板，其特征在于，所述的PCB板上印刷有如权利要求1-8任一项所述的半导体器件测试电路。
10.一种测试装置，其特征在于，所述的测试装置上采用如权利要求1-8任一项所述的半导体器件测试电路实现工作控制。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体器件测试电路，其特征在于，包括第一可调驱动单元、第二可调驱动单元、示波单元、模式调节单元、可调输出限流单元和负载单元，所述第一可调驱动单元的输出端与基准陪测器件的驱动端连接，所述第二可调驱动单元的输出端与测试器件的驱动端连接，所述示波单元分别与所述基准陪测器件和所述测试器件的输出端连接，所述基准陪测器件的输出端和所述测试器件的输出端均通过模式调节单元与所述可调输出限流单元的输入端连接，所述可调输出限流单元的输出端与所述负载单元连接；所述第一可调驱动单元用于调节所述基准陪测器件的驱动电压；所述第二可调驱动单元用于调节所述测试器件的驱动电压；所述可调输出限流单元用于调节流入所述负载单元的输入电流。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述第一可调驱动单元包括第一驱动开关芯片u1、第一可调低压驱动电源、第二可调低压驱动电源和第一驱动信号源，所述第一可调低压驱动电源的负极和所述第二可调低压驱动电源的正极接地，所述第一驱动开关芯片u1的使能端与所述第一驱动信号源连接，所述第一驱动开关芯片u1的正极输入端和负极输入端分别与所述第一可调低压驱动电源的正极和所述第二可调低压驱动电源的负极连接，所述第一驱动开关芯片u1的输出端与所述基准陪测器件的驱动端连接。
3.根据权利要求2所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述第一可调驱动单元还包括第一二极管组、第一电阻阵列组和第一电流传感器，所述第一驱动开关芯片u1的输出端与所述第一二极管组的一端连接，所述第一二极管组的另一端与所述第一电阻阵列组的一端连接，所述第一电阻阵列组的另一端分别与所述第一电流传感器的检测端和所述基准陪测器件的驱动端连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试电路，其特征在于，所述第二可调驱动单元包括第二驱动开关芯片u2、第三可调低压驱动电源、第四可调低压驱动电源和第二驱动信号源，所述第三可调低压驱动电源的负极和所述第四可调低压驱动电源的正极接地，所述第二驱动开关芯片u2的使能端与所述第二驱动信号源连接，所述第二驱动开关芯片u2的正极输入端和负极输入...
【专利技术属性】
技术研发人员：李成瑶，余颖舜，胡锦华，陈文志，陈尧彤，陈东杰，
申请(专利权)人：佛山职业技术学院，
类型：发明
国别省市：
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