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基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置制造方法及图纸
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下载基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置的技术资料
文档序号:42090606
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本发明提供一种基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置,其方法包括:获取待测样品光谱r(k)经过阵列器件的阵列光谱c(k);获取待测样品光谱r(k)经过阵列器件中每一个单元器件的单元光谱d<subgt;i</subgt;(k)和...
该专利属于中国科学院大学所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院大学授权不得商用。
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