基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置，其方法包括：获取待测样品光谱r(k)经过阵列器件的阵列光谱c(k)；获取待测样品光谱r(k)经过阵列器件中每一个单元器件的单元光谱d<subgt;i</subgt;(k)和探测强度b′<subgt;i</subgt;；基于所述阵列光谱c(k)、所述单元光谱d<subgt;i</subgt;(k)和所述探测强度b′<subgt;i</subgt;反演计算得到所述待测光谱r(k)，并根据所述待测光谱r(k)，确定所述待测样品的元素成分定量比例。本发明专利技术通过加载待测样品信号光经过阵列器件中不同单元器件后对应的单元光谱d<subgt;i</subgt;(k)和探测强度b′<subgt;i</subgt;，并结合待测样品信号光通过阵列器件后对应的阵列光谱c(k)，形成针对的信号处理方程组，用于反演计算得到待测光谱r(k)，使得基于待测光谱r(k)计算得到的待测元素的定量比例也更加精准。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱分析，尤其涉及一种基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置。

技术介绍

1、激光诱导等离子体光谱技术(laser induced plasma spectroscopy，lips)也称作激光诱导击穿光谱技术(laser induced breakdown spectroscopy，libs)，是基于激光和材料相互作用产生的发射光谱的一种定量分析技术，该方法在测量过程中只需微量被检测材料即可实现成份的定量分析。

2、拉曼光谱检测技术(raman spectra，rs)是基于拉曼散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息的一种定量分析方法，该方法实施快速、对样品无损。

3、典型光谱分光技术采用光栅进行分光，通过电荷耦合器件进行强度探测，最后进行数据处理，计算得到样品中的成分比例。然而，这种方式得到的光谱其探测范围有限，分辨率较低，无法实现高精度测量。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置，用以解决现有本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，所述基于所述阵列光谱c(k)、所述单元光谱di(k)和所述探测强度确定所述待测光谱r(k)，并根据所述待测光谱r(k)，确定所述待测样品的元素成分定量比例的步骤，包括：

3.根据权利要求2所述的基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，所述根据所述阵列光谱c(k)和所述单元光谱di(k)，构建观测矩阵的步骤，包括：

4.根据权利要求2所述的基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，所述根据所述观测矩阵和所述...

【技术特征摘要】

1.一种基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，所述基于所述阵列光谱c(k)、所述单元光谱di(k)和所述探测强度确定所述待测光谱r(k)，并根据所述待测光谱r(k)，确定所述待测样品的元素成分定量比例的步骤，包括：

3.根据权利要求2所述的基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，所述根据所述阵列光谱c(k)和所述单元光谱di(k)，构建观测矩阵的步骤，包括：

4.根据权利要求2所述的基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，所述根据所述观测矩阵和所述探测强度bi′，确定所述待测光谱r(k)的步骤，包括：

5.根据权利要求1至4任一项所述的基于阵列器件的光谱物质成分分析方法，其特征在于，所述阵列器件包括至少一个薄膜滤波片，所述薄膜滤波片上集合...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵天卓，仲芳慧，李飞，殷晨轩，柯雅琛，
申请(专利权)人：中国科学院大学，
类型：发明
国别省市：