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一种半导体结构及其形成方法,所述半导体结构包括:基底;波导层,位于所述基底上;第一介质层,覆盖所述基底和所述波导层;第二介质层,位于所述第一介质层上,且所述第二介质层的致密度大于所述第一介质层的致密度;金属硅化物层,位于所述第二介质层上。本...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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一种半导体结构及其形成方法,所述半导体结构包括:基底;波导层,位于所述基底上;第一介质层,覆盖所述基底和所述波导层;第二介质层,位于所述第一介质层上,且所述第二介质层的致密度大于所述第一介质层的致密度;金属硅化物层,位于所述第二介质层上。本...