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本发明公开了一种用于集成电路数字化的性能测试系统，涉及集成电路测试技术领域，其技术方案要点是通过数据库模块中的多种测试设备参数数据库和测试程序算法数据库，通过数据分析模块的模型算法，在用户输入集成芯片类型、测试方案和测试指标后，通过模型自动...
该专利属于淮安奥创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过淮安奥创科技有限公司授权不得商用。

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