一种用于集成电路数字化的性能测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于集成电路数字化的性能测试系统，涉及集成电路测试技术领域，其技术方案要点是通过数据库模块中的多种测试设备参数数据库和测试程序算法数据库，通过数据分析模块的模型算法，在用户输入集成芯片类型、测试方案和测试指标后，通过模型自动匹配合适的测试设备参数和测试程序算法，这样，用户无需手动选择和配置，系统能够根据输入的集成芯片类型、测试方案和测试指标来自动匹配最佳的测试设备配置参数和测试算法，进一步提高测试的自动化程度，解决了背景技术中提出的仍然需要选择合适的测试程序算法，在一定程度上还是需要人工进行操作，并不能实现完全的自动化的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路测试，更具体地说，它涉及一种用于集成电路数字化的性能测试系统。

技术介绍

1、数字化测试是指利用数字技术和计算机系统来对集成电路(i c)进行性能测试和验证的过程。传统的i c性能测试通常依赖于模拟测试设备和手动操作，而数字化测试则借助自动化测试设备和软件进行测试。数字化测试系统可以对i c的功能、逻辑、时序、电气特性等进行全面而快速的测试。

2、目前，对集成电路进行数字化测试能够大大减少人力资源的使用，提高自动化的测试程度，但是在对不同种类的芯片以及不同的测试方案和测试指标进行测试时，需要测试人员实时在测试设备上选择不同的测试设备的参数，例如数字信号发生器的频率和幅度，模拟-数字转换器的精度和采样率，然后还需要选择合适的测试程序算法，在一定程度上还是需要人工进行操作，并不能实现完全的自动化，在繁忙的集成芯片的测试作业中，还是需要人工进行手动操作。

3、因此，为了解决上述技术问题本申请提出一种用于集成电路数字化的性能测试系统。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于集成电路数字化的性能测试系统，其特征在于：包括；

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路数字化的性能测试系统，其特征在于：所述一种用于集成电路数字化的性能测试系统还包括警示模块和算法编程模块；

3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路数字化的性能测试系统，其特征在于：在所述数据分析模块将输入的IC类别、测试方案和测试指标信息通过模型算法向历史数据库中归类时，若不能归类至历史数据库中的历史测试情况中，则控制模块控制警示模块启动，提示测试人员出现测试特例，然后通过算法编程模块根据实际的IC类别、测试方案和测试指标信息情况重新进行测试算法编程，并重新调整测...

【技术特征摘要】

1.一种用于集成电路数字化的性能测试系统，其特征在于：包括；

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路数字化的性能测试系统，其特征在于：所述一种用于集成电路数字化的性能测试系统还包括警示模块和算法编程模块；

3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路数字化的性能测试系统，其特征在于：在所述数据分析模块将输入的ic类别、测试方案和测试指标信息通过模型算法向历史数据库中归类时，若不能归类至历史数据库中的历史测试情况中，则控制模块控制警示模块启动，提示测试人员出现测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟民，
申请(专利权)人：淮安奥创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：