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本申请属于缺陷检测技术领域，具体公开了一种显示器缺陷检测方法、系统、装置及电子设备，其中方法包括：获取工业相机在高角度环形光源打光条件下和内层聚焦模式下拍摄的待测显示器的边框区域的第一缺陷图像；基于第一缺陷图像，确定待测显示器的边框区域的缺...
该专利属于武汉精立电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司授权不得商用。

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