显示器缺陷检测方法、系统、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请属于缺陷检测技术领域，具体公开了一种显示器缺陷检测方法、系统、装置及电子设备，其中方法包括：获取工业相机在高角度环形光源打光条件下和内层聚焦模式下拍摄的待测显示器的边框区域的第一缺陷图像；基于第一缺陷图像，确定待测显示器的边框区域的缺陷检测结果。本申请实施例在尽量不改变AA区域缺陷检测已有的光学方案的前提下，利用高角度环形光源打光条件下和内层聚焦模式下的工业相机对待测显示器的边框区域进行拍摄，获取缺陷对比度明显的第一缺陷图像，从而利用第一缺陷图像得到边框区域的缺陷检测结果，实现了边框区域的自动化缺陷检测，兼顾检测性能和检测效率，减少了边框区域缺陷漏检对显示器生产过程中其它工序的影响。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于缺陷检测，更具体地，涉及一种显示器缺陷检测方法、系统、装置及电子设备。

技术介绍

1、发光二极管(light emitting diodes,led)是一种常见的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光。微发光二极管显示器(micro light emitting diode display,micro led)是通过在原始基板上集成高密度微小尺寸的led阵列来实现图像显示的显示器，具有宽色域、高亮度、低功耗、高稳定定、传感器集成能力等优势。

2、图1是相关技术提供的micro led的外观示意图，如图1所示，红色框线以内为有效区域(acitive area,aa)，即显示器屏幕上可以编程控制显示图形的区域，是用户可以直接操作和看到的区域，也称为工作区域；蓝色框线以内红色框线以外为框架(frame)区域，也即非工作区域。

3、对于micro led的缺陷检测，多针对aa区域，检测aa区域内的膜层异物和脏物等缺陷。frame区域作为显示器的基础组成部分，针对frame区域的缺陷检测也十分必要。而将针对aa区域的缺陷检测流程直本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显示器缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述待测显示器的边框区域的缺陷检测结果，包括：

3.根据权利要求2所述的显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述获取所述缺陷分类模型输出的所述边框区域的缺陷分类结果，包括：

4.根据权利要求1所述的显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述待测显示器的边框区域的缺陷检测结果，包括：

5.根据权利要求1所述的显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述待测显示器的边框区域的缺陷检测结果，包括：

6.根据权利要求5所述的显示...

【技术特征摘要】

1.一种显示器缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述待测显示器的边框区域的缺陷检测结果，包括：

3.根据权利要求2所述的显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述获取所述缺陷分类模型输出的所述边框区域的缺陷分类结果，包括：

4.根据权利要求1所述的显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述待测显示器的边框区域的缺陷检测结果，包括：

5.根据权利要求1所述的显示器缺陷检测方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：许超，王雷，梁齐，刘敏，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：