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一种半导体器件侧面检查装置。涉及半导体制造领域。用于对半导体器件的侧面进行检测，所述半导体器件包括塑封体以及伸出塑封体左右两侧的对称引脚，所述引脚呈折弯状，所述引脚折弯至塑封体背面的下方；所述检查装置包括L形固定台，所述固定台的垂直端设有旋...
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