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本发明提供了一种数据容量的测试方法及系统，运用于数据测试领域；本发明对于相同外观的芯片，采用X射线透视获取其内部结构的图像，可以揭示芯片的内部构造和材料分布情况，有助于识别不同芯片的容量特征，便于进行后续的容量测试和质量评估，同时基于所获取...
该专利属于广东长兴半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东长兴半导体科技有限公司授权不得商用。

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