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本发明公开了一种存储芯片并行测试系统及方法，该系统包括：主控芯片，包括多个内核、多个测试接口，每个测试接口与一个存储芯片连接，每个内核用于通过一个测试接口对一个存储芯片进行测试；多个内核中的一个内核作为主控内核，主控内核与上位机通信，用于接...
该专利属于北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司授权不得商用。

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