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本发明提供一种EML芯片与测试方法，通过将EML芯片中调制器区的部分调制器去除，来作为测试电极中G电极的共用地线，将测试电极的G电极设置于去除调制器后暴露出来的衬底上，将S电极与G电极设置于调制器去，从而将测试电极集成于EML芯片上，并将薄...
该专利属于武汉光迅科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉光迅科技股份有限公司授权不得商用。

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