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本发明提供的高精度ADC的静态特性内建自测试电路，包括：在采样保持阶段，对输入的外部共模信号Vcm作采样得到采样共模信号；在第一次量化阶段，根据正输入端信号Vip对采样共模信号作采样放大处理，并降低输出阻抗得到第一放大共模信号；在第二量化阶...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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