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本发明涉及用于实现层级式测试设计解决方案的方法和装置。具体地，公开了用于实现电路上的层级式测试设计（ＤＦＴ）逻辑的方法和设备。该层级式ＤＦＴ逻辑实现ＤＦＴ电路，其可以专用于模块，并且可以将用于多个模块的ＤＦＴ配置为共享顺序输入信号和／或共享...
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