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本申请实施例提供了一种芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备，应用于芯片技术领域，以解决目前的测试方案对互连口的各个通道进行测试时，结果不够准确的问题。其中，上述的芯片测试系统包括第一芯片和第二芯片；第一芯片与第二芯片通过互连口耦接...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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