下载电离层散射函数的超分辨率成像方法、装置的技术资料

文档序号:41976828

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本申请公开了电离层散射函数的超分辨率成像方法、装置。本方法包括:通过将回波信号与参考信号进行互相关计算获取互谱信号,回波信号由以扩谱调制方式向待测电离层发射的扩谱信号所形成;通过将互谱信号的各频率分量的复信号在距离维按指定分辨率进行加权求和...
该专利属于武汉大学所有,仅供学习研究参考,未经过武汉大学授权不得商用。

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