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文档序号:41974520
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一种检测设备包括基板和晶粒。基板提供第一电压。晶粒邻近基板设置。晶粒包括多个电阻器路径、选择电路、模数转换器(Analog‑to‑Digital Converter,ADC)和数字电路。选择电路选择电阻器路径中的一个电阻器路径作为目标路径。...
该专利属于联发科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联发科技股份有限公司授权不得商用。
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