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本发明公开了一种基于渗流理论的栅氧化层TDDB寿命预测方法，包括以下步骤：1)将栅氧化层作为一个三维长方体结构，将栅氧化层均匀划分成若干立方体结构的晶格；2)根据晶格的失效率计算栅氧化层的累计失效概率；3)应用Weibull分析法随机模拟介...
该专利属于西安建筑科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安建筑科技大学授权不得商用。

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