温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种存储器故障测试电路及方法，涉及存储器领域包括测试机、错误地址保存电路、数据错误检测电路以及待测存储器，其中测试机将测试数据写入待测存储器的各个存储单元中以及数据错误检测电路中之后，数据错误检测电路将待测存储器中各个存储单元中...
该专利属于浙江驰拓科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江驰拓科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。