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本发明提供一种膜层中的缝隙的检测方法。对第一晶片中的膜层进行：(a)进行扫描，以得到灰阶影像图；(b)对灰阶影像图进行区域定位处理，以界定出多个目标区以及位于每一个目标区中的缝隙区；(c)取得每一个缝隙区中的每一个像素的灰阶值，并计算缝隙区...
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