温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供一种差分电路测量方法、电子设备及存储介质。所述方法包括：获取差分信号线的横截面图像；使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测，得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域，其中，每个单线区域包含一差分信号线的横截面；对...
该专利属于礼鼎半导体科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过礼鼎半导体科技（深圳）有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。