差分电路测量方法、电子设备及存储介质技术

技术编号:41855090 阅读:32 留言:0更新日期:2024-06-27 18:30
本申请提供一种差分电路测量方法、电子设备及存储介质。所述方法包括:获取差分信号线的横截面图像;使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测,得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域,其中,每个单线区域包含一差分信号线的横截面;对每个单线区域进行轮廓检测,得到对应的横截面的多个顶点以及每个顶点的顶点位置;根据相邻的多条差分信号线在所述差分电路区域中对应的多个顶点的顶点位置以及预设转换系数,计算每条差分信号线的差分线宽及所述多条差分信号线之间的差分线距。利用上述方法,能够准确地确定每个差分电路区域中的差分线宽及差分线距。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于检测领域,涉及图像处理技术、尤其涉及一种差分电路测量方法、电子设备及存储介质


技术介绍

1、在印刷电路板(printedcircuitboar,pcb)的设计与制造中,保证差分电路的质量至关重要。差分电路由两条固定距离的差分信号线构成,每条差分信号线的横截面类似于梯形。为了避免电子信号在阻抗不匹配的传输路径上引起错误,pcb品质管控部门需要对pcb板进行抽样切片,并通过测量抽样切片图像中差分电路的两条差分信号线线宽和线距的方式确定pcb板的质量情况。

2、神经网络在测量差分电路的线宽和线距方面的应用存在一定的局限性。专业人员对差分电路进行准确标记是必要的,但这往往是困难的。因此,神经网络难以充分学习差分电路的特征,导致输出的测量结果不够准确,难以满足规定的误差要求(如2像素内的误差)。如果不能准确测量pcb板上的差分电路,将会对pcb板的品质管控产生不利影响。


技术实现思路

1、鉴于以上内容,有必要提供一种差分电路测量方法、电子设备及存储介质,能够解决差分电路的测量准确性不佳的技术问题本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种差分电路测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的差分电路测量方法,其特征在于,所述使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测,得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域包括:

3.如权利要求2所述的差分电路测量方法,其特征在于,所述根据所述预设数量在所述候选区域中框选出多个差分电路区域包括:

4.如权利要求2所述的差分电路测量方法,其特征在于,所述目标检测模型的生成方法包括:

5.如权利要求1所述的差分电路测量方法,其特征在于,任一横截面的多个顶点包括第一初始顶点、第二初始顶点、第一末尾顶点以及第二末...

【技术特征摘要】

1.一种差分电路测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的差分电路测量方法,其特征在于,所述使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测,得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域包括:

3.如权利要求2所述的差分电路测量方法,其特征在于,所述根据所述预设数量在所述候选区域中框选出多个差分电路区域包括:

4.如权利要求2所述的差分电路测量方法,其特征在于,所述目标检测模型的生成方法包括:

5.如权利要求1所述的差分电路测量方法,其特征在于,任一横截面的多个顶点包括第一初始顶点、第二初始顶点、第一末尾顶点以及第二末尾顶点,所述对每个单线区域进行轮廓检测,得到对应的横截面的多个顶点以及每个顶点的顶点位置包括:

6.如权利要求5所述的差分电路测量方法,其特征在于,所述使...

【专利技术属性】
技术研发人员:张闳翰廖姮懿罗圣谚黄禹杰简廷因黎进财
申请(专利权)人:礼鼎半导体科技深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1